| 1. | 通報(bào)成員：智利 |
| 2. | 負(fù)責(zé)機(jī)構(gòu)：衛(wèi)生服務(wù)監(jiān)管局（SISS） |
| 3. |
通報(bào)依據(jù)的條款：[X] 2.9.2[ ] 2.10.1[ ] 5.6.2[ ] 5.7.1[ ] 3.2[ ] 7.2
通報(bào)依據(jù)的條款其他：
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| 4. | 覆蓋的產(chǎn)品：冷水和熱水的儀表。
ICS：[] HS：[] |
| 5. |
通報(bào)標(biāo)題：NCh 3274/2：2015冷飲用水和熱水儀表—第2部分：測(cè)試方法；頁(yè)數(shù)：132 使用語(yǔ)言：西班牙語(yǔ) 鏈接網(wǎng)址： |
| 6. | 內(nèi)容簡(jiǎn)述：本標(biāo)準(zhǔn)適用于NCh3274/1中規(guī)定的冷飲用水和熱水用水表的型式評(píng)定和常規(guī)檢定試驗(yàn)。水表必須按照NCh3274/1的規(guī)定頒發(fā)合格證書。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于水表類型評(píng)估和常規(guī)驗(yàn)證的測(cè)試程序、原則、設(shè)備和程序的詳細(xì)信息。本標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定也適用于輔助設(shè)備。這些規(guī)定包括要求對(duì)水表進(jìn)行全面測(cè)試，并要求將水表的測(cè)量傳感器（包括流量或體積傳感器）和計(jì)算器（包括指示裝置）作為單獨(dú)的單元進(jìn)行測(cè)試。 |
| 7. | 目的和理由：質(zhì)量要求 |
| 8. | 相關(guān)文件： ISO 4064-1:20 14 OIML R 49-1:20 13，冷飲用水和熱水水表-第1部分：計(jì)量和技術(shù)要求。ISO 4064-3:20 14 OIML R 49-3:20 13，冷飲用水和熱水水表-第3部分：測(cè)試報(bào)告格式。ISO/IEC指南98-3:20 08，測(cè)量不確定度-第3部分：測(cè)量不確定度表示指南（GUM：1995）。IEC 60068-2-1：測(cè)試-測(cè)試A：冷。IEC 60068-2-2：測(cè)試-測(cè)試B：干熱。IEC 60068-2-30：測(cè)試-測(cè)試Db：濕熱。IEC 60068-2-30：測(cè)試-測(cè)試Db：濕熱，循環(huán)（12小時(shí)+12小時(shí)循環(huán)）。IEC 60068-2-31，環(huán)境測(cè)試-第2-31：測(cè)試-測(cè)試Ec：粗糙處理沖擊，主要用于設(shè)備類型樣品。IEC 60068-2-47，環(huán)境測(cè)試-第2-47：測(cè)試-測(cè)試樣品安裝。IEC 60068-2-47，環(huán)境測(cè)試-第2-47：測(cè)試-測(cè)試樣品安裝。IEC 60068-2-64，環(huán)境測(cè)試-第2-64，環(huán)境測(cè)試-第2-64，環(huán)境測(cè)試-第2-64：測(cè)試-測(cè)試樣品安裝。4、環(huán)境試驗(yàn)-第3-4部分：支持文件和指南-濕熱試驗(yàn)。EC 60654-2，工業(yè)過(guò)程測(cè)量和控制設(shè)備的操作條件-第2部分：電源。IEC 61000-2-1，電磁兼容性（EMC）-第2部分：環(huán)境-第1節(jié)：環(huán)境描述-公共供電系統(tǒng)中低頻傳導(dǎo)干擾和信號(hào)的電磁環(huán)境。IEC 61000-2-2，電磁兼容性（EMC）-第2-2部分：公共低壓供電系統(tǒng)中低頻傳導(dǎo)干擾和信號(hào)的環(huán)境兼容性水平。IEC 61000-4-1，電磁兼容性（EMC）-第4-1部分：IEC 61000-4系列的測(cè)試和測(cè)量技術(shù)概述。IEC 61000-4-2，電磁兼容性（EMC）-第4-2部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù)-靜電放電抗擾度測(cè)試。IEC 61000-4-3，電磁兼容性（EMC）-第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù)-輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試。IEC 61000-4-4，電磁兼容性(EMC)-第4-4部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù)-電氣快速瞬態(tài)/突發(fā)抗擾度測(cè)試。IEC 61000-4-5，電磁兼容性(EMC)-第4-5部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù)-浪涌抗擾度測(cè)試。IEC 61000-4-6，電磁兼容性(EMC)-第4-11部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù)-對(duì)傳導(dǎo)干擾的抗擾度，由射頻場(chǎng)引起。IEC 61000-6-1，電磁兼容性(EMC)-第6-1部分：電磁兼容性(EMC)-第6-2部分：通用標(biāo)準(zhǔn)-住宅、商業(yè)和輕工業(yè)環(huán)境的抗擾度。IEC 61000-6-2，電磁兼容性(EMC)-第6-2部分：通用標(biāo)準(zhǔn)-工業(yè)環(huán)境的抗擾度。電子測(cè)量?jī)x器的一般要求。OIML D 11:20 04，計(jì)量和測(cè)量?jī)x器的一般要求。OIML G 13:19 89，規(guī)劃測(cè)試實(shí)驗(yàn)室。 |
| 9. |
擬批準(zhǔn)日期：
- 擬生效日期： - |
| 10. | 意見(jiàn)反饋截至日期：2026年4月3日；[X]自通知之日起60天；負(fù)責(zé)處理有關(guān)通知意見(jiàn)的機(jī)構(gòu)或當(dāng)局的聯(lián)系方式：外交部國(guó)際經(jīng)濟(jì)關(guān)系副秘書處(SUBREI)外交部Teatinos 180,11樓 電話：(+56)-2-2827 5251 電子郵件：tbt_chile@subrei.gob.cl |
| 11. |
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